وصل منذ قليل، المتهمون بقضية أحداث السفارة الأمريكية الثانية، وعددهم 23 متهمًا، إلى معهد أمناء الشرطة بطرة، لحضور جلسة محاكمتهم أمام محكمة جنايات القاهرة، فى اتهامهم بقضية أحداث السفارة الأمريكية الثانية التى وقعت فى 22 يوليو 2013. وتُعقد الجلسة أمام محكمة جنايات القاهرة، برئاسة المستشار محمد ناجى شحاتة، وعضوية المستشارين ياسر ياسين وعبد الرحمن صفوت الحسينى، ومن المقرر أن تستمع المحكمة إلى طلبات الدفاع وسماع شهود الإثبات. كانت المحكمة قد صرحت للدفاع باستخراج نسخة من الأسطوانات المدمجة بالجلسة الماضية، وأكدت أنه على النيابة العامة إعلان شهود الإثبات، وضم دفتر أحوال قسم قصر النيل عن يوم الواقعة. وكانت النيابة قد أسندت للمتهمين تهم التجمهر وتعريض السلم العام للخطر، وارتكاب جرائم القتل العمد وإصابة الكثيرين، والإتلاف العمدى وتخريب مبان مخصصة للنفع العام، علاوة على حيازتهم الأسلحة واستعراض القوة وإرهاب المواطنين.