بمناسبة العيد القومي لمدينة الأقصر وذكرى اكتشاف مقبرة توت عنخ آمون 4 نوفمبر 1922، تعلن وزارة الآثار بالتعاون مع كلية الهندسة جامعة القاهرة ومعهد الحفاظ على التراث والابتكار بباريس-فرنسا (www.HIP.institute) عن بدء إجراء التصوير باستخدام الأشعة تحت الحمراء Infrared Thermography لجدران مقبرة توت عنخ آمون يومي 5 و 6 نوفمبر، وذلك في الأماكن المحتمل أن يوجد بها فتحات بناءً على فرضيات الأثري البروفيسير "نيكولاس ريفز". هذا الإجراء يتم بناء على طلب وزارة الآثار بعد موافقة اللجنة الدائمة للآثار المصرية، والحصول على التصاريح اللازمة لذلك من الجهات المعنية بالدولة.